IT連携フォーラムOACIS

第43回技術座談会開催のご案内
「画像処理・パターン認識技術 (半導体SEM画像の計測、欠陥分類)、人間型触覚の実現技術」


技術座談会は、OACISの活動の一つとして、特定のテーマをとりあげ、大阪大学情報科学研究科とOACIS参加企業の連携について自由な議論をする場を提供するものです。平成20年度まで40回を超える技術座談会を開催し、産学連携を生み出すきっかけなどの役割を果たしてきました。情報科学研究科の紹介がほぼ一巡したということで、しばらくの間、従来形式の技術座談会は休止しておりましたが、ほぼ5年が経過し、新たな技術シーズをご紹介できるようになりました。従来の技術座談会では一つの研究室が中心となっていたため、ピンポイント的なテーマ設定となり、OACIS会員にとっては必ずしも効果的なものとは言えませんでした。そこで、異なる専攻の二研究室を一組として、技術座談会を開催する形にいたしました。シンポジウムとは異なり、少人数で小回りのきく、実効的な会合になることをめざしております。

今回、情報システム工学専攻集積システム診断学講座(中前研究室)と、マルチメディア工学専攻ヒューマンインタフェース工学講座(細田研究室)により、「画像処理・パターン認識技術 (半導体SEM画像の計測、欠陥分類)、人間型触覚の実現技術」をテーマとした座談会を開催します。興味をお持ちの方々に足を運んでいただき、情報科学技術におけるホットな技術を通して、情報科学研究科とのつながりを深めていただけることを願っております。

講師:

大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 集積システム診断学講座

助教 御堂 義博

准教授 三浦 克介
(http://www-ise3.ist.osaka-u.ac.jp/)

大阪大学 大学院情報科学研究科 マルチメディア工学専攻
ヒューマンインタフェース工学講座
教授 細田 耕
(http://www-hi.ise.eng.osaka-u.ac.jp/)

内容: テーマ1:画像処理技術 (半導体SEM画像の計測)

 計測の自動化のために画像処理による輪郭抽出が広く用いられています。本講座では、半導体のSEM(走査電子顕微鏡)画像を例に挙げ、低SN比で微細な構造を含む画像から正確な輪郭を抽出する技術について概説します。
テーマ2:パターン認識技術 (VLSIウェハー欠陥分類)

 大規模集積回路(VLSI)の歩留まり向上の為、パターン認識技術を利用した欠陥分類が行われています。本講座では、半導体SEM像、ならびに、レイアウトパターンを用いた、欠陥分類技術について概説します。
テーマ3:人間型触覚の実現技術

 人間が持つような触覚を機械で実現する,例えばすべり覚をロボットで実現するには,どのようなセンサを用意すればよいか,特に人間に指の構造に焦点を当てながらお話をします。
開催 日時: 平成25年12月20日(金)
座談会 15:00〜17:00
懇談会 17:00〜18:30
個別の議論の場として懇談会を開催しますので、こちらへのご参加もよろしくお願いします。
場所: 大阪大学中之島センター講義室302
 (http://www.onc.osaka-u.ac.jp/others/map/)
 (〒530-0005 大阪市北区中之島4-3-53)
参加対象: IT連携フォーラムOACIS(http://www.oacis.jp/)会員企業・団体に属する方および参加希 望企業の方。
 
  
**なお会場の都合上、参加は先着順30名とさせて頂きま す。

申し込み方法:
    下記の内容をメールでregistration_zadankai251220にご送付ください。

内容に関する問い合わせ先:
    大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 三浦克介(miura

-----------第43回技術座談会申し込み様式------------------------
第43回 技術座談会
「画像処理・パターン認識技術 (半導体SEM画像の計測、欠陥分類)、人間型触覚の実現技術」

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