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第43回技術座談会開催のご案内
「画像処理・パターン認識技術 (半導体SEM画像の計測、欠陥分類)、人間型触覚の実現技術」
技術座談会は、OACISの活動の一つとして、特定のテーマをとりあげ、大阪大学情報科学研究科とOACIS参加企業の連携について自由な議論をする場を提供するものです。平成20年度まで40回を超える技術座談会を開催し、産学連携を生み出すきっかけなどの役割を果たしてきました。情報科学研究科の紹介がほぼ一巡したということで、しばらくの間、従来形式の技術座談会は休止しておりましたが、ほぼ5年が経過し、新たな技術シーズをご紹介できるようになりました。従来の技術座談会では一つの研究室が中心となっていたため、ピンポイント的なテーマ設定となり、OACIS会員にとっては必ずしも効果的なものとは言えませんでした。そこで、異なる専攻の二研究室を一組として、技術座談会を開催する形にいたしました。シンポジウムとは異なり、少人数で小回りのきく、実効的な会合になることをめざしております。 今回、情報システム工学専攻集積システム診断学講座(中前研究室)と、マルチメディア工学専攻ヒューマンインタフェース工学講座(細田研究室)により、「画像処理・パターン認識技術 (半導体SEM画像の計測、欠陥分類)、人間型触覚の実現技術」をテーマとした座談会を開催します。興味をお持ちの方々に足を運んでいただき、情報科学技術におけるホットな技術を通して、情報科学研究科とのつながりを深めていただけることを願っております。
**なお会場の都合上、参加は先着順30名とさせて頂きま す。 申し込み方法: 下記の内容をメールでregistration_zadankai251220にご送付ください。 内容に関する問い合わせ先: 大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 三浦克介(miura) |
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第43回 技術座談会
「画像処理・パターン認識技術 (半導体SEM画像の計測、欠陥分類)、人間型触覚の実現技術」
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